Spektrometr Genius 5000 XRF

Skyray

Spektrometry EDX GENIUS 5000 XRF firmy Skyray: analizują wszelkiego rodzaju stopy od stali nierdzewnej, narzędziowej, chromowej/molibdenowej do stopów kobaltu, niklu: 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm – 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Kategoria:

Opis

Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF to przenośne urządzenie, które analizuje wszelkiego rodzaju stopy od stali nierdzewnej, narzędziowej, chromowej/molibdenowej do stopów kobaltu, niklu, tytanu, miedzi, mosiądzu, cynku  itd. Stosowany jest głównie w identyfikacji materiału wsadowego w przemyśle hutniczym oraz do kontroli jakości w przemyśle odlewniczym. Analizuje jakość i skład materiałów stosowanych  do budowy okrętów, samolotów itp. Pozwala na identyfikację i sortowanie złomu metalowego, dzięki czemu możliwa jest sprawna klasyfikacja i wycena nawet w trudnych warunkach terenowych.

Parametry

Model Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF
detektor 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil
lampa rentgenowska 40 kV / 100 uA typu end-window z anodą Ag
rozdzielczość 139 eV
pierwiastki od magnezu do uranu
czas analizy 3-30 sek.
analiza równoczesna do 30 pierwiastków
zakres pomiaru ppm – 99,99%
zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i  matrycy
formy próbek stałe, płynne i proszkowe
GPS, WiFi moduł GPS i  złącze WiFi
filtr/ kolimator 6 fi ltrów do wyboru z oprogramowania
2 kolimatory (2 mm, 4 mm)
zasilanie akumulator 7800 mAh, do 8 godzin ciągłej pracy.
warunki otoczenia temperatura: -20 °C to + 50 °C
wilgotność: ≤ 85%
wymiary 234 x 306 x 82 mm (LxHxW)
waga 1.9 kg

Dodatkowe informacje

Waga 0.00 kg