Opis
Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF to przenośne urządzenie, które analizuje wszelkiego rodzaju stopy od stali nierdzewnej, narzędziowej, chromowej/molibdenowej do stopów kobaltu, niklu, tytanu, miedzi, mosiądzu, cynku itd. Stosowany jest głównie w identyfikacji materiału wsadowego w przemyśle hutniczym oraz do kontroli jakości w przemyśle odlewniczym. Analizuje jakość i skład materiałów stosowanych do budowy okrętów, samolotów itp. Pozwala na identyfikację i sortowanie złomu metalowego, dzięki czemu możliwa jest sprawna klasyfikacja i wycena nawet w trudnych warunkach terenowych.
Parametry
| Model | Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF |
| detektor | 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil |
| lampa | rentgenowska 40 kV / 100 uA typu end-window z anodą Ag |
| rozdzielczość | 139 eV |
| pierwiastki | od magnezu do uranu |
| czas analizy | 3-30 sek. |
| analiza równoczesna | do 30 pierwiastków |
| zakres pomiaru | ppm – 99,99% |
| zakres detekcji | do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy |
| formy próbek | stałe, płynne i proszkowe |
| GPS, WiFi | moduł GPS i złącze WiFi |
| filtr/ kolimator | 6 fi ltrów do wyboru z oprogramowania 2 kolimatory (2 mm, 4 mm) |
| zasilanie | akumulator 7800 mAh, do 8 godzin ciągłej pracy. |
| warunki otoczenia | temperatura: -20 °C to + 50 °C wilgotność: ≤ 85% |
| wymiary | 234 x 306 x 82 mm (LxHxW) |
| waga | 1.9 kg |
