Spektrometr Genius 9000 XRF

Spektrometry EDX GENIUS 9000 XRF firmy Skyray: są przeznaczone do analizy środowiska, a w szczególności do pomiaru zanieczyszczenia gleb metalami;25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm – 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Kategoria:

Opis

 

Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF jest przeznaczony do analizy środowiska, a w szczególności do pomiaru zanieczyszczenia gleb metalami: rtęcią, kadmem, arsenem, miedzią, cynkiem, kobaltem oraz wanadem. Dzięki niewielkiemu rozmiarowi jest dobrym rozwiązaniem do wykonywania pomiarów i analiz, nawet w trudnych warunkach terenowych.

Parametry

Model Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF
detektor 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil
lampa rentgenowska 40 kV / 100 uA typu end-window z anodą Ag
rozdzielczość 139 eV
pierwiastki od magnezu do uranu
czas analizy 3-30 sek
analiza równoczesna do 30 pierwiastków
zakres pomiaru ppm – 99,99%
zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i  matrycy
formy próbek stałe, płynne i proszkowe
GPS, WiFi moduł GPS i  złącze WiFi
filtr/ kolimator 6 fi ltrów do wyboru z oprogramowania
2 kolimatory (2 mm, 4 mm)
zasilanie akumulator 7800 mAh, do 8 godzin ciągłej pracy.
warunki otoczenia temperatura: -20 °C to + 50 °C
wilgotność: ≤ 85%
wymiary 234 x 306 x 82 mm (LxHxW)
waga 1.9 kg

Dodatkowe informacje

Waga 0.00 kg