Spektrometr XRF EDX 3000 Plus

Skyray

Spektrometry XRF EDX 3000PLUS do analiz metali i powłok jubilerskich; detektor SDD chłodzony elektrycznie; czas analizy 30-200 sek.; zakres analizy ppm – 99,99%; dokładność pomiaru 0,05% (zawartość głównego składnika ponad 96%); wymiary 439mm×300mm×50mm; waga 45 kg.

Kategoria:

Opis

Spektrometr XRF EDX 3000PLUS został zaprojektowany do analizy stopów i produktów z metali szlachetnych. EDX3000 PLUS ma ergonomiczny wygląd oraz intuicyjny interfejs. Profesjonalne oprogramowanie sprawia, że analiza jest prosta i szybka.

Parametry

Model Spektrometr XRF EDX 3000PLUS
detektor SDD chłodzony elektrycznie
lampa rentgenowska o mocy 50W
natężenie lampy 50-1000 µA
napięcie na lampy 5-50 kV
czas analizy 30-200 sek.
pierwiastki Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itd. od S do U
zakres analizy ppm – 99,99%
dokładność pomiaru 0,05% (zawartość głównego składnika ponad 96%)
analiza równoczesna 24 pierwiastki
formy próbek ciała stałe, proszki, ciecze
zasilanie 220V AC
rozdzielczość energii 139 +/- 5 eV
temperatura otoczenia +15 °C do + 30 °C
wilgotność otoczenia 35% – 70%
wymiary 439mm×300mm×50mm
waga 45 kg

Dodatkowe informacje

Waga 0.00 kg