Opis
Spektrometr XRF EDX 880 służy do testowania metali szlachetnych, ma możliwość pomiaru wewnętrznych ścianek elementów biżuterii oraz innych nieregularnych kształtów. Posiada uchwyty, podstawki i masę plastyczną tak by użytkownik mógł ustawić badany materiał w jak najdogodniejszy sposób.
EDX 880 jest wykorzystywany do produkcji, sprzedaży i skupu biżuterii.
Parametry
| Model | Spektrometr XRF EDX 880 |
| detektor | licznik proporcjonalny lub detektor Si-PIN |
| źródło wzbudzenia | lampa x-ray 50W |
| prąd lampy | 50-1000 µA |
| napięcie lampy | 5-50 kV |
| czas analizy | 60-100 sek. |
| mierzone pierwiastki | Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itp. |
| powtarzalność pomiaru | 0,05% ~0,1% (zawartość głównego skłdnika > 96%) 0,01 µm ~0,05 µm (dla analizy powłok) |
| zasilanie | 220 VAC +/- 5V (zalecana stabilizacja napięcia zasilania) |
| kolimator | kolimator 0,1 mm do testów w skali mikro |
| temperatura otoczenia | +5 °C do + 30 °C |
| wilgotność otoczenia | nie mniej niż 70% |
