Spektrometr XRF EDX 880

Skyray

Spektrometry XRF EDX 880 analiza metali szlachetnych i pomiarów grubości powłok; czas analizy 60-100 sek.; mierzone pierwiastki Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itp.; powtarzalność pomiaru 0,05% ~0,1% (zawartość głównego skłdnika > 96%) 0,01 µm ~0,05 µm (dla analizy powłok).

Kategoria:

Opis

Spektrometr XRF EDX 880 służy do testowania metali szlachetnych, ma możliwość pomiaru wewnętrznych ścianek elementów biżuterii oraz innych nieregularnych kształtów. Posiada uchwyty, podstawki i masę plastyczną tak by użytkownik mógł ustawić badany materiał w jak najdogodniejszy sposób.
EDX 880 jest wykorzystywany do produkcji, sprzedaży i skupu biżuterii.

Parametry

Model Spektrometr XRF EDX 880
detektor licznik proporcjonalny lub detektor Si-PIN
źródło wzbudzenia lampa x-ray 50W
prąd lampy 50-1000 µA
napięcie lampy 5-50 kV
czas analizy 60-100 sek.
mierzone pierwiastki Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itp.
powtarzalność pomiaru 0,05% ~0,1% (zawartość głównego skłdnika > 96%)
0,01  µm ~0,05 µm (dla analizy powłok)
zasilanie 220 VAC +/- 5V (zalecana stabilizacja napięcia zasilania)
kolimator kolimator 0,1 mm do testów w skali mikro
temperatura otoczenia +5 °C do + 30 °C
wilgotność otoczenia nie mniej niż 70%

Dodatkowe informacje

Waga 0.00 kg