Opis
Spektrometr XRF THICK 800A został stworzony do analizy grubości powłok oraz składu pierwiastkowego. Z wysoką precyzją mierzy powłoki pojedyncze lub wielowarstwowe np. złoto, srebro, miedź, nikiel, cyna i cynk.
THICK 800A jest wyposażony w ruchomą platformę, która zapewnia ruch trójwymiarowy. System pozycjonowania lasera umożliwia punktowe badanie grubości powłok i składu pierwiastkowego próbki o dużym rozmiarze.
Umożliwia analizę materiałów budowlanych np. cementu, szkła lub ceramiki, analizę stali, kontrolę jakości oraz badanie grubości i składu powłok metalicznych.
Parametry
| Model | THICK 800A |
| zakres analityczny | od S do U |
| jednoczesna analiza | 24 elementy lub więcej niż 5 warstw |
| granica wykrywalności | 2 ppm |
| zawartość analityczna | 2 ppm 99,9% |
| grubość powłoki | minimum 0.005um ciągu 20um (zależnie od materiałów) |
| precyzja platformy ruchomej | poniżej 0,005 mm |
| powtarzalność | do 10 nm |
| zakres temperatury | 15 ℃ do 30 ℃ |
| wymiary | 648mm x 490mm x 544mm |
| waga | 90 kg |
