Spektrometr XRF Thick 800A

Skyray

Spektrometry XRF THICK 800A firmy Skyray: zakres analityczny od S do U; pomiar więcej niż 5 warstw; powtarzalność do 10 nm; wysoka dokładność pomiarów, granica wykrywalności 2 ppm; wymiary 648mm x 490mm x 544mm; waga 90 kg.

Kategoria:

Opis

Spektrometr XRF THICK 800A został stworzony do analizy grubości powłok oraz składu pierwiastkowego. Z wysoką precyzją mierzy powłoki pojedyncze lub wielowarstwowe np. złoto, srebro, miedź, nikiel, cyna i cynk.
THICK 800A jest wyposażony w ruchomą platformę, która zapewnia ruch trójwymiarowy. System pozycjonowania lasera umożliwia punktowe badanie grubości powłok i składu pierwiastkowego próbki o dużym rozmiarze.
Umożliwia analizę materiałów budowlanych np. cementu, szkła lub ceramiki, analizę stali, kontrolę jakości oraz badanie grubości i składu powłok metalicznych.

Parametry

Model THICK 800A 
zakres analityczny od S do U
jednoczesna analiza 24 elementy lub więcej niż 5 warstw
granica wykrywalności 2 ppm
zawartość analityczna 2 ppm 99,9%
grubość powłoki minimum 0.005um ciągu 20um (zależnie od materiałów)
precyzja platformy ruchomej poniżej 0,005 mm
powtarzalność do 10 nm
zakres temperatury 15 ℃ do 30 ℃
wymiary 648mm x 490mm x 544mm
waga 90 kg

Dodatkowe informacje

Waga 0.00 kg